변형 해석을 실행한 후에는 변형 측정의 근거가 되는 기준 평면을 정의해야 합니다. 이 평면은 비틀림이 없는 제품에서 앵커점이라고 부르는 3개의 점을 선택하여 정의하는 앵커 평면입니다.
변형 결과를 볼 때 앵커 평면의 위치를 신중히 고려하십시오. 변형을 쉽게 시각화할 수 있고 변형의 의미를 가장 명확히 분석할 수 있는 편평한 제품 섹션에 평면을 위치시키십시오.
가능한 앵커 평면 위치에는 다음이 포함됩니다.
제품에 3개 지점을 선택하여 앵커 평면을 정의합니다. 넓은 영역에 3개 지점을 선택하여 쉽게 시각화되는 기준 평면을 정의하십시오. 이 평면은 아래 나타난 바와 같이 변형을 측정하는 데 사용됩니다.
변형 결과에 영향을 미치므로 앵커 지점의 정의 순서가 중요합니다.
3개 앵커 지점이 비틀림이 없는 제품에 설정되어 있습니다. 측정을 위해 이 평면을 기준으로 비틀림이 있는 부품의 방향을 일치시켜야 합니다.
정의된 첫 번째 앵커 지점이 전방 중심 지점입니다. 측정할 제품의 해당 지점이 이 앵커 지점과 항상 일치해야 합니다.
두 번째 앵커 지점이 첫 번째 앵커 지점에서 나오는 라인을 정의합니다. 첫 번째 앵커 지점의 위치가 여전히 유지된 채 측정할 제품의 해당 두 번째 지점이 이 라인을 따라 위치되어야 합니다.
세 번째 앵커 지점이 앵커 평면을 정의합니다. 첫 번째 2개 앵커 지점의 위치가 유지된 채 측정할 제품의 세 번째 지점이 이제 이 평면에 위치됩니다.
이제 앵커 평면을 기준으로 제품의 방향이 일치됩니다.
이제 앵커 평면과 제품 간의 거리가 반복 가능한 변형 측정값이 됩니다.
앵커 평면을 정의하는 데 선택한 3개 지점이 3개 해당 심벌로 표시됩니다. 1개 이상의 심벌을 제품의 새 위치로 끌어 앵커 평면을 다시 정의할 수 있습니다. 왼쪽 마우스 버튼을 놓아 심벌을 새 위치에 두는 순간 변형 결과가 자동으로 업데이트됩니다.