如果您有来自成型物的光学双折射测量，您可以调整所使用的特定材料的光谱更正因子，以获得更加精确的模拟结果。
- 选择一些典型成型物，这些成型物的双折射（迟滞或相移）已经得到测量，同时具有已知且明确的工艺条件。
- 测量成型物上一些特征点的双折射。
- 使用值为 1.0 的光谱更正因子对零件运行“3D 翘曲分析”。
注： 设置“3D 翘曲分析”时，选择“填充+保压设置”页面中的“材料数据包含光学属性时进行双折射分析”选项。这能确保生成双折射结果。
- 对比模拟双折射结果和实验成型结果。
- 如果模拟双折射结果与实验结果相比预测过度，则可将光谱更正因子值降低到 1 以下，如 0.4 到 0.8。
- 如果模拟双折射结果预测不足，则可将光谱更正因子值提高到 1 以上，如 1.2 到 1.6。
- 如果模拟双折射结果与实验结果相似，则可使用接近 1 的光谱更正因子值，如 0.8、0.9、1.1 和 1.2。
- 在调整光谱更正因子之后，再次运行“3D 翘曲分析”。
- 对于光谱更正因子的每个值，计算均方根误差即 RMS：
，其中
是双折射测量的总值，
和 
是点 
对应的迟滞测量值和预测值。 - 绘制 RMS 与光谱更正因子的图。 图上的最低点对应特定材料等级的最优光谱更正因子。
- 将材料数据添加到个人数据库中并输入光谱更正因子的最优值。
- 将来进行双折射分析时应该使用这一新的材料数据。