金線偏移指數結果
「
金線偏移指數
」結果是由通過積體電路的塑膠流產生的力的表現法。
「
金線偏移指數
」結果由「
微晶片封裝
」分析產生。
會以如下所述的方式計算並出圖每條金線的金線偏移指數:
分析會找到金線上在平面方向位移最大的點。
註:
使用 Dual Domain 分析技術時,會使用整條金線位移最大的點。而使用 3D 分析技術時,則會使用每條線段中在該線段上位移最大的節點。
用此最大位移除以金線長度。
得出的結果便是個別金線的金線偏移指數。
註:
若要計算金線偏移指數結果,必須在
Autodesk Simulation Moldflow Insight
中執行金線偏移計算。
提示:
編輯「微晶片選項求解器」參數 (依次按一下
[「首頁」頁籤
>
「成型製程設置」面板
>
「製程設定」
]、「
曲線設定
」頁、「
進階選項
」按鈕、「
求解器參數
」區域,然後再按一下「
編輯
」,以顯示「
反應式成型求解器參數
」對話方塊)。選取「
金線偏移/晶墊偏移
」頁籤。將「
執行金線偏移/晶墊偏移模擬於
」下拉方塊設定為
Autodesk Simulation Moldflow Insight
。
上層主題:
微晶片封裝分析結果