下列分析順序適用於微晶片封裝成型製程:
中間平面
Dual Domain
3D | 分析順序 | 網格類型 |
|---|---|
| 充填 (可壓縮) |
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| 充填與保壓 |
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| 充填與保壓 (可壓縮) |
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| 流 (不可壓縮) |
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| 充填、保壓與翹曲 |
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| 充填、保壓與翹曲 (可壓縮) |
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| 充填、保壓與金線偏移 |
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| 充填、保壓與金線偏移 (可壓縮) |
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| 流動與金線偏移 (不可壓縮) |
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| 充填、保壓與金線偏移詳細資料 |
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| 充填、保壓與晶墊偏移 |
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| 充填、保壓與晶墊偏移 (可壓縮) |
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| 流動與晶墊偏移 (不可壓縮) |
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| 充填、保壓與動態晶墊偏移 |
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| 充填、保壓、晶墊偏移與金線偏移 |
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| 充填、保壓、金線偏移與晶墊偏移 (可壓縮) |
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| 流動、金線偏移與晶墊偏移 (不可壓縮) |
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| 充填、保壓、動態晶墊偏移與金線偏移 |
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| 流道平衡 (可壓縮) |
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| 流道平衡 (不可壓縮) |
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| 冷卻 (FEM) |
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| 冷卻 (FEM)、充填與保壓 |
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| 冷卻 (FEM)、充填、保壓與翹曲 |
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| 冷卻 (FEM)、充填、保壓與金線偏移 |
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| 冷卻 (FEM)、充填、保壓與金線偏移詳細資料 |
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| 冷卻 (FEM)、充填、保壓與晶墊偏移 |
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| 冷卻 (FEM)、充填、保壓與動態晶墊偏移 |
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| 冷卻 (FEM)、充填、保壓、晶墊偏移與金線偏移 |
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| 冷卻 (FEM)、充填、保壓、動態晶墊偏移與金線偏移 |
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您也可以透過在求解器參數對話方塊的「排氣分析」頁籤 (可透過「製程設定精靈」存取) 選取選項,來執行排氣分析 (僅適用於
)。