微晶片封裝成型

下列分析順序適用於微晶片封裝成型製程:

此成型製程模擬適用於下列網格類型 :
分析順序 網格類型
充填 (可壓縮) 中間平面 Dual Domain
充填與保壓 3D
充填與保壓 (可壓縮) 中間平面 Dual Domain
流 (不可壓縮) 中間平面 Dual Domain
充填、保壓與翹曲 3D
充填、保壓與翹曲 (可壓縮) 中間平面
充填、保壓與金線偏移 3D
充填、保壓與金線偏移 (可壓縮) 中間平面 Dual Domain
流動與金線偏移 (不可壓縮) 中間平面 Dual Domain
充填、保壓與金線偏移詳細資料 3D
充填、保壓與晶墊偏移 3D
充填、保壓與晶墊偏移 (可壓縮) 中間平面 Dual Domain
流動與晶墊偏移 (不可壓縮) 中間平面 Dual Domain
充填、保壓與動態晶墊偏移 3D
充填、保壓、晶墊偏移與金線偏移 3D
充填、保壓、金線偏移與晶墊偏移 (可壓縮) 中間平面 Dual Domain
流動、金線偏移與晶墊偏移 (不可壓縮) 中間平面 Dual Domain
充填、保壓、動態晶墊偏移與金線偏移 3D
流道平衡 (可壓縮) 中間平面 Dual Domain
流道平衡 (不可壓縮) 中間平面 Dual Domain
冷卻 (FEM) 3D
冷卻 (FEM)、充填與保壓 3D
冷卻 (FEM)、充填、保壓與翹曲 3D
冷卻 (FEM)、充填、保壓與金線偏移 3D
冷卻 (FEM)、充填、保壓與金線偏移詳細資料 3D
冷卻 (FEM)、充填、保壓與晶墊偏移 3D
冷卻 (FEM)、充填、保壓與動態晶墊偏移 3D
冷卻 (FEM)、充填、保壓、晶墊偏移與金線偏移 3D
冷卻 (FEM)、充填、保壓、動態晶墊偏移與金線偏移 3D
記住: 流動是指充填與保壓分析順序。
註: 針對 3D 網格類型,沒有選項可用於選取可壓縮或不可壓縮,因為分析會根據輸入的 pvT 資料執行。

您也可以透過在求解器參數對話方塊的「排氣分析」頁籤 (可透過「製程設定精靈」存取) 選取選項,來執行排氣分析 (僅適用於 3D)。