Cuadro de diálogo Editar configuración de elemento - Línea de muestreo

Este cuadro de diálogo le permite ver y cambiar la configuración de línea de muestreo.

En este tema se documenta la configuración en todos los cuadros de diálogo Editar configuración (en el nivel de dibujo, nivel de elemento y nivel de comando) relacionados con líneas de muestreo.

Para obtener información general acerca de la configuración de dibujo, elemento y comando y su interacción, consulte Acerca de la configuración de AutoCAD Civil 3D.

Para obtener información sobre los parámetros ambientales, consulte Ficha Configuración ambiental (cuadro de diálogo Configuración de dibujo)

Estilos por defecto

Utilice esta configuración para establecer los estilos por defecto asignados a los componentes de la línea de muestreo:

Estilo de línea de muestreo

Especifica el estilo por defecto de la línea de muestreo. Haga clic en la columna Valor y, a continuación, en para seleccionar un estilo en el cuadro de diálogo Estilo de línea de muestreo.

Estilo de etiqueta de línea de muestreo

Especifica el estilo por defecto de la etiqueta de línea de muestreo. Haga clic en la columna Valor y, a continuación, en para seleccionar un estilo en el cuadro de diálogo Estilo de etiqueta de línea de muestreo.

Formato de nombre por defecto

Esta configuración le permite especificar los formatos de nombre por defecto para las nuevas líneas de muestreo y grupos de líneas de muestreo. Haga clic en la columna Valor y, a continuación, en para realizar cambios en el cuadro de diálogo Plantilla de nombre

Anchura de franja por defecto

Nota:

Este grupo de propiedades se muestra al acceder a la configuración en el comando CreateSampleLine.

Esta configuración le permite especificar el comportamiento por defecto para la anchura de franja de línea de muestreo.

Anchura de franja izquierda

Especifica la anchura de la franja hacia la izquierda de la alineación mediante las unidades reales del terreno. Escriba una anchura en la columna Valor o haga clic en y seleccione una distancia en el área del dibujo.

Anchura de franja derecha

Especifica la anchura de la franja hacia la derecha de la alineación mediante las unidades reales del terreno. Escriba una anchura en la columna Valor o haga clic en y seleccione una distancia en el área del dibujo.

Incrementos de muestreo

Nota: Este grupo de propiedades se muestra al acceder a la configuración en el comando CreateSampleLine.

Esta configuración le permite especificar el comportamiento por defecto de los incrementos de muestreo.

Nota: La modificación de los incrementos de muestreo puede afectar al rendimiento en la regeneración. Un incremento más corto implica más P.K. de muestreo y, por tanto, un dibujo mayor.
Utilizar incrementos de muestreo

Especifica si las líneas de muestreo se crean en los P.K. de incremento en la alineación.

Incrementar respecto a
Especifica cómo se incrementa el intervalo de P.K.
  • P.K. absoluto: incrementa los P.K. desde el P.K. 0 de la alineación.
  • Inicio de intervalo de P.K.: incrementa los P.K. desde el P.K. inicial de la alineación (que puede no ser 0) o bien desde el P.K. que en Intervalo de P.K. se haya indicado como P.K. inicial .
Incremento en tangentes

Especifica la distancia de los incrementos de muestreo en las tangentes mediante las unidades reales del terreno. Escriba una distancia en la columna Valor o haga clic en y seleccione una distancia en el área del dibujo.

Incremento en curvas

Especifica la distancia de los incrementos de muestreo en las curvas mediante las unidades reales del terreno. Escriba una distancia en la columna Valor o haga clic en y seleccione una distancia en el área del dibujo.

Incremento en espirales

Especifica la distancia de los incrementos de muestreo en las espirales mediante las unidades reales del terreno. Escriba una distancia en la columna Valor o haga clic en y seleccione una distancia en el área del dibujo.

Controles de muestra adicionales

Nota: Este grupo de propiedades se muestra al acceder a la configuración en el comando CreateSampleLine.

Esta configuración le permite especificar el comportamiento por defecto de los controles de muestra adicionales.

Al inicio del intervalo

Especifica si una línea de muestreo se crea al inicio del intervalo especificado.

Al final del intervalo

Especifica si una línea de muestreo se crea al final del intervalo especificado.

En puntos de geometría horizontal

Especifica si las líneas de muestreo adicionales se crean en puntos de geometría horizontal, por ejemplo, al inicio de una espiral, o en la espiral a curva dentro del intervalo actual.

En P.K. críticos de peralte

Especifica si las líneas de muestreo adicionales se crean en P.K. críticos de peralte dentro del intervalo actual.

Iniciar intervalo en el inicio de la alineación

Especifica si el intervalo de muestreo comienza al inicio de la alineación.

Finalizar intervalo al final de la alineación

Especifica si el intervalo de muestreo de la alineación finaliza al final de la alineación.

Varios

Nota: Este grupo de propiedades se muestra al acceder a la configuración en el comando CreateSampleLine.

Esta configuración le permite especificar varios comportamientos por defecto para las líneas de muestreo.

Bloquear a P.K.

Especifica si las líneas de muestreo están actualizadas cuando cambian la geometría de la alineación y las propiedades.