ilrSurfaceThickness

ilrSurfaceThickness ノードは、サンプル ポイントの背後の遮蔽ジオメトリまでの距離をサンプリングするユーティリティ ノードです。この値は単純なサブ サーフェス スキャッタリング エフェクトや、一般的なシェーディング ネットワークでの任意の目的のために使用できます。厚みのサンプリングには多数の方法があります。1 つのレイを使用して単一の測定を行うか、円錐状に多数のレイを放出してウェイト付きの測定を行うかです。

サーフェスの厚み(Surface Thickness)アトリビュート

レイの数(Number of Rays)

厚みのサンプリングのために放出するレイの数を定義します。

円錐角度(Cone Angle)

サンプリングを行う際の円錐の大きさを定義します。0 度の場合は単一のレイで、180 度の場合は完全な半球状になります。

レイの最大距離(Maximum Ray Distance)

無限とみなされる前にレイが移動できる距離を定義します。

内側に放出(Send Inwards)

サンプル レイの方向を反転します。法線が内側に向いている場合は、このチェック ボックスをオフにする必要があります。

レイの方向を使用(Use Ray Direction)

通常、サンプルはサーフェス法線に沿って放出されますが、このチェック ボックスをオンにすると、サンプル レイが入射レイの方向で放出されます。

出力の正規化(Normalize Output)

出力をレイの最大距離(Maximum Ray Distance)でスケールします。