変位量結果は、成形品の各ノードにおける変位(反り解析または応力解析)、あるいはワイヤーまたはパドルの各ノードにおける変位(半導体封止成形解析)を示します。結果を確認できるように、変位プロットを変更するには[プロット プロパティ]ダイアログ ボックスの[変位量]タブを使用します。
変位量結果には、パドル(半導体封止成形解析)に応じて、次のようにいくつかのバリエーションがあります。結果は、 ベスト フィット:
結果名は、微小変形解析と大変形解析のどちらを実行したかを示します。結果名で表されていない場合は、微小変形解析が実行されています。
各ノードの実変位、あるいは X、Y、Z 軸に沿った変位の成分を参照できます。軸方向は定義されたアンカー平面によって決まり、アンカー平面シンボルで示されます。
4 つの変形結果セットがあります。
実変位プロットでは、成形品の予測総変位が示されます。これは、既定の ベスト フィット テクニックまたはユーザ定義のアンカー平面に基づくものです。
変形前と変形後の選択したノードの座標、および変形前と変形後の連続した 2 つの選択ノード間の距離を表示するには、
[結果の確認]ツールを使用します。
[反りの原因の特定]オプションをアクティブ化した反り解析では、総変位結果が表示されるだけでなく、定義された反りの要因(収縮差、配向の影響、および冷却差)に基づいて総変位が分類されます。Midplane および Dual Domain 解析では、コーナー効果に起因する反りも表示されます。最大変位量値を持つ要因は、反りの主要因と考えることができます。反りの主要因を特定したら、その要因に応じて、全体的な反りを低減するための具体的な措置をとることができます。