결과 해석을 위해 변형 플롯이 축척되는 경우가 종종 있습니다.
변형 결과를 축척하는 것은 일반적인 일입니다. 변형 결과를 축척함으로써 사용자는 부품의 관심 영역에만 초점을 맞출 수 있습니다. 상황에 따라 조사 도구를 사용하여 최소값 및 최대값을 예상한 다음 축척을 설정해야 할 수 있습니다. 필요한 범위를 정확하게 얻기 위해 축척을 여러 번 설정해야 할 수도 있습니다.
다음 그림에서 부품 (A)는 축척되지 않습니다. 관심 영역은 화살표로 표시된 베벨입니다. 부품 (B)는 베벨의 값으로 축척됩니다. 빨간색 영역은 베벨의 최대값을 넘는 영역이고, 파란색 영역은 최소값 아래의 영역입니다.
A = Z 변형이 베벨에 대해 축척되지 않음
B = Z 변형이 베벨의 값으로 축척됨