扫描是一种测量技术，可使测量设备将测头保持与零件连续接触，并在测头沿检测路径移动时记录测量值。如果测头座适合扫描，PowerInspect 将允许通过选择 
“AutoScan”或 
“UserScan”探测方法来连续扫描特征。根据您使用的测量设备配置，可以使用两种不同类型的扫描方法：
- “Scan3”探测方法可用于支持 3+2 扫描的测头座。测头座保持固定方向，并且使用测量设备的线性轴沿扫描路径连续移动。测量设备的线性轴移动将进行调整，以适应正在测量的零件的曲面。
- “Scan5”探测方法可用于支持 5 轴扫描的测头座。测头会沿着使用测头座旋转或测头座旋转与线性轴移动组合的扫描路径连续移动。
PowerInspect 支持以下探测方法：
HelicalPitch — 生成螺旋扫描路径，其定义为已选特征的从上到下或从下到上旋转数。例如：
LineScan — 生成直线的扫描路径。例如：
LongitudinalLines — 生成平行于已选特征轴的一系列线性路径（段）。可以使用点值计算纵向路径。例如：
SlicesPoints — 围绕已选特征生成一系列切片。切片可以使用“点”值进行计算。例如：
CurveScan — 沿用户输入的点生成扫描路径。例如：
SweepScanStrip — 生成测头沿其进行扫描的正弦曲线；点指定曲线的脊椎。必须在“参数”对话框中为扫描指定“SurfaceScanWidth”、“SurfaceScanHeight”、“SurfaceScanPitch”、“LeadAngle”和“LeanAngle”值。例如：
使用此方法可以生成跟随曲面的路径。
SweepScan — 生成正弦检测路径（类似于 SweepScanStrip），但您无法更改测头角度或曲线的高度和宽度。例如：
使用此方法可以生成跟随平坦曲面的检测路径。例如：
