Al Editor de información de organización de datos espaciales se accede desde el Editor de metadatos. Describa los métodos que ha utilizado para representar la información espacial en el conjunto de datos, así como la forma en que están organizados los datos, incluidas referencias espaciales directas e indirectas. Los campos del Editor de información de organización de datos espaciales aceptan metadatos sobre el número y tipo de objetos del conjunto de datos, la terminología utilizada para describir los datos y otra información sobre la naturaleza de los datos.
En el Administrador de visualización, seleccione una capa. Haga clic en HerramientasVer metadatos. |
Describa los métodos que ha utilizado con los datos. Los datos indirectos describen la ubicación de los datos espaciales, mientras que los directos indican a los usuarios cómo se han representado visualmente los datos en el recurso.
Especifique qué métodos ha utilizado para identificar las ubicaciones geográficas; por ejemplo, métodos formales, como los nombres de lugares GNIS (Geographic Names Index System), las ubicaciones PLSS (Public Land Survey System) o los códigos de ubicación FIPS (Federal Information Processing System), o métodos menos formales, como el nombre de un distrito o la dirección de una calle. Estas referencias no incluyen las coordenadas.
Seleccione el método directo que ha usado para representar objetos:
Indique el tipo de objetos de vector o de punto que no son de rejilla utilizados en el conjunto de datos y la cantidad. Si el método de referencia espacial directa es un punto o un vector, elija si desea utilizar términos SDTS o términos VPF.
Si selecciona punto o vector, se muestran los siguientes campos:
Este nombre de campo cambia en función de la terminología que seleccione.
Seleccione la información de punto o vector apropiada que utiliza terminología y conceptos de Spatial Data Concepts, Part 1, Chapter 2, in Department of Commerce, 1992, Spatial Data Transfer Standard (SDTS) (Federal Information Processing Standard 173): Washington, Department of Commerce, National Institute of Standards and Technology. La referencia a la SDTS solo se utiliza como nombre del método utilizado para describir los objetos de punto y vector. Este método se selecciona por defecto en el cuadro de diálogo.
Si selecciona Términos de SDTS, rellene los siguientes campos:
Seleccione el tipo de objetos de punto o vector que utiliza para identificar las ubicaciones sin dimensión o con una o dos dimensiones en el conjunto de datos.
Especifique el número de objetos de punto o vector en el conjunto de datos.
Si selecciona Términos de VPF, rellene los siguientes campos tantas veces como sea necesario. Utilice el Navegador de registros para añadir nuevos campos.
Indique el nivel de representación de la topología en el conjunto de datos. Este campo pasa a estar disponible si selecciona Términos de VPF. Estos niveles se definen en la siguiente publicación: Department of Defense, 1992, Vector Product Format (MIL-STD-600006): Philadelphia, Department of Defense, Defense Printing Service Detachment Office. La referencia al VPF solo se utiliza como nombre del método utilizado para describir los objetos de punto y vector.
Seleccione una de las siguientes opciones:
Ésta es la información de punto o vector que utiliza la terminología y los conceptos definidos en: Department of Defense, 1992, Vector Product Format (MIL-STD-600006): Philadelphia, Department of Defense, Defense Printing Service Detachment Office.
Especifique el número de objetos de punto o vector en el conjunto de datos.
Si selecciona Ráster como método de referencia espacial directa, se muestran los siguientes campos:
Esto describe los tipos de objetos ráster del conjunto de datos y la cantidad de filas y columnas que contienen para objetos rectangulares planos, o bien la cantidad de objetos sobre el eje Z (verticales) para objetos rectangulares tridimensionales.
Seleccione el tipo de objetos ráster que utiliza para identificar ubicaciones sin dimensión o bien con una o dos dimensiones en el conjunto de datos.
Si ha seleccionado Punto, Píxel o Celda de rejilla, rellene los siguientes campos:
Indique el número de filas de objetos sobre el eje Y del ráster.
Indique el número de filas de objetos sobre el eje X del ráster.
Si ha seleccionado Punto, Píxel o Celda de rejilla y los datos tienen tres dimensiones, rellene el campo Recuento vertical.
Indique el número de objetos sobre el eje Z vertical.
ID del campo FGDC | Título del campo | Nombre abreviado | Tipo de datos |
---|---|---|---|
3.1 | Referencia espacial indirecta | indspref | Cadena |
3.2 | Método de referencia espacial directa | direct | Opción de menú |
3.3 | Información sobre objetos de vector o punto | ptvctinf | Compuesto |
3.3.1.1 | Tipo de objeto de punto y de vector SDTS | sdtstype | Opción de menú |
3.3.1.2 | Recuento de objetos de punto y vector | ptvctcnt | Entero |
3.3.2 | Descripción de términos VPF | vpfterm | Compuesto |
3.3.2.1 | Nivel de topología VPF | vpflevel | Entero |
3.3.2.2 | Información de objetos de punto y de vector VPF | vpfinfo | Compuesto |
3.3.2.2.1 | Tipo de objeto de punto y de vector VPF | vpftype | Entero |
3.4 | Información de objeto ráster | rastinfo | Compuesto |
3.4.1 | Tipo de objeto ráster | rasttype | Cadena |
3.4.2 | Recuento de filas | rowcount | Entero |
3.4.3 | Recuento de columnas | colcount | Entero |
3.4.4 | Recuento vertical | vrtcount | Entero |