VRED は計測されたマテリアルの使用をサポートします。測定されたマテリアルには、さまざまな表示角度からの反射の動作を考慮する内部サーフェスの反射情報が含まれており、レンダー ビューでのフォトリアリスティックな描画を実現します。
[X-Rite で計測]はさまざまな計測マテリアルのためのラッパー マテリアルで、ID でソートされています。
計測ファイルはファイル ブラウザからロードできます。VRED は、AXF、CPA、BTF 形式のファイルをサポートします。
VRED X-Rite AxF マテリアルには GGX BRDF モデルのサポートが含まれています。これにより、最新のマイクロファセット BRDF テクノロジを使用して、サーフェスの反射動作を正確にキャプチャして再現することが可能になります。また、ピーク時のビュー角度と浅いビュー角度の両方で、マテリアルの反射を高い精度でシミュレーションすることもできます。
リストに新しい材料を追加するには、コピーと貼り付けを使用します。マテリアル固有のアトリビュートは、マテリアルをリストで選択すると変更できるようになります。