結果の XY プロットを使用するには、Inventor Nastran ツリーの[サブケース]の下で[XY プロット]アイコンを右クリックし、[新規作成]を選択します。解析の実行が完了しているかどうか(Inventor Nastran ツリーの[解析]を右クリックし、[Nastran で実行]を選択)、または結果のロードが完了しているかどうか(Inventor Nastran ツリーの[解析]を右クリックし、[結果をロード]を選択)を確認します。
XY プロット(グラフ)の X 成分と Y 成分に、それぞれの単位が表示されるようになりました。
[一般]:
節点および要素の距離に対する結果プロットは、選択した位置を基準とする座標距離に基づいています。各節点または要素のラジオ ボタンを選択することで、節点結果および要素結果に基づいた結果データをフィルタすることができます。
[プロットするエンティティ]:
[出力セット]:
[出力ベクトル]:
[XY カーブ リスト]:
ボタンを使用して[XY カーブ リスト]にカーブを追加し、[XY プロットを表示]をクリックすると、追加されたカーブをプロットできます。選択項目なしで複数のカーブを追加した場合は、XY プロット グラフにすべてのカーブが表示されます。リストから 1 つのカーブを選択して、カーブをプロットした場合は、選択したものだけが表示されます。
ボタンを使用して[XY カーブ リスト]から選択したカーブを削除できます。