「與最近金線之間的距離」結果顯示每一條金線與模型中最近的另一條金線之間的距離。
當所選分析順序包含「金線偏移」時,「與最近金線之間的距離」結果由 3D「微晶片封裝」分析產生。
出圖顯示在母模仁充填期間發生金線變形之後,與最近的另一條金線相距最近的個別金線位置。
理想狀態下,金線間距應一致。您可使用此資訊來識別與相鄰金線相距太近或太遠的金線。