金线偏移指数结果
金线偏移指数
结果表示塑料流通过集成电路导线时产生的力。
金线偏移指数
结果通过
微芯片封装
分析生成。
将为每条金线计算并绘制金线偏移指数,如下:
分析找到金线在平面方向上的最大位移点。
注:
采用双层面分析技术时,使用整条金线的最大位移点。采用 3D 分析技术时,使用每段中具有最大位移的节点。
用金线长度除以此最大位移。
结果即为每条金线的金线偏移指数。
注:
为了计算金线偏移指数结果,必须在
Autodesk Simulation Moldflow Insight
中执行金线偏移计算。
父主题:
微芯片封装分析结果