DOE 生成器 -“质量标准”选项卡

此选项卡用于选择要在您从 DOE 生成器中的“变量”选项卡中选择的约束内研究的分析结果。

填充 + 保压 . 若非特别说明,这些标准可用于所有网格类型。
质量标准 分析目标:找出实现下述目标的条件
填充末端总体温度

将总体温度变化降至最小(仅适用于中性面和双层面网格类型)。

锁模力

使填充期间保持模具闭合所需的锁模力降至最小。

注射压力

使螺杆引起材料流动所需的压力降至最小,达到注塑机压力限制的 75% 或更低(包括流道时)。

剪切应力

使型腔中塑料流动层之间的剪切应力或摩擦降至最小,这些作用会导致塑料由于应力开裂而降解或失效(仅适用于中性面和双层面网格类型)。

缩痕深度

使可能由表面相对面的特征导致的缩痕深度降至最小。

流动前沿温度

使流动前沿温度变化降至最小,填充阶段的温度下降不应高于 2-5°C。

冷却时间

使冷却时间降至最短,从而使达到顶出的时间降至最短。

顶出时的体积收缩率

使整个零件的体积收缩率变化降至最小,从而减少翘曲。

保压结束时间

使达到保压结束所需的时间降至最短,从而优化周期时间(仅适用于中性面和双层面网格类型)。

零件重量/质量

使零件重量降至最小(不包括流道),从而缩短周期时间并降低生产成本。

冷却和冷却 (FEM)

最小化

  以下标准仅可用于共注射成型工艺和中性面网格。
聚合物 A 的体积

使聚合物 A 的体积最小,从而确保为型芯材料留出足够空间。

聚合物 B 的体积

使聚合物 B 的体积最大,从而确保零件完全填充。

聚合物 A 的重量

使聚合物 A 重量最小,从而确保为型芯材料留出足够空间。

聚合物 B 的重量

使聚合物 B 的重量最大,从而确保零件完全填充。

冷却和冷却 (FEM) . 若非特别说明,这些标准可用于所有网格类型的热塑性成型工艺。
质量标准 分析目标:找出实现下述目标的条件
平均型腔表面温度

使平均型腔表面温度最低,从而使周期时间降至最短并优化零件质量(仅适用于冷却 (FEM))。

平均模具表面温度

使塑料与模具进行接触的塑料/金属界面处的模具温度降至最低,从而优化冷却时间。

回路压力

使回路压力降至最小,从而优化冷却系统。

回路雷诺数

使雷诺数变化降至最小,从而优化冷却液流动速率。

零件热通量(顶面/底面)

使模具/零件界面的热通量变化降至最小,从而使周期时间和翘曲达到最小。

冻结层百分比

使冻结层百分比降至最低(仅适用于冷却 (FEM)),从而使潜在翘曲达到最小。

融化层百分比

使熔化层百分比降至最低(仅适用于冷却 (FEM)),从而使潜在翘曲达到最小。

回路冷却液温度

使输入冷却液到输出冷却液的温度变化降至最小,不应超过 2-3°C。

回路管壁温度

使整个周期中金属冷却回路的温度变化降至最小,不应超过入口温度 5°C 以上。

模具表面温度(顶面/底面)

使塑料/金属界面处的模具温度变化降至最小,从而使冷却和翘曲问题的发生率降至最低。

温差,零件

使零件顶面和底面间的温度变化降至最小,不应超过 5°C(仅适用于中性面)。

冷却时间

使整个零件的冷却时间变化降至最小,从而优化周期时间。

最高零件温度

使零件温度降至最低,从而使周期时间和零件翘曲达到最小。

周期时间

使周期时间降至最短,从而使料流量达到最大,而使成本降至最低。

翘曲 . 这些标准可用于所有网格类型。
质量标准 分析目标:找出实现下述目标的条件
变形,所有效应

使变形变化降至最小,从而使翘曲达到最小。

应力 . 若非特别说明,这些标准可用于所有网格类型的热塑性成型工艺。
质量标准 分析目标:找出实现下述目标的条件
小变形,应力

使变形变化降至最小,从而使翘曲达到最小。

大变形,应力

使变形变化降至最小,从而使翘曲达到最小。

最大剪切应力

使型腔中塑料流动层间的剪切应力变化降至最小,剪切应力会导致塑料由于应力开裂而降解或失效。

Mises-Hencky 应力

使 Mises-Hencky 应力变化降至最小,Mises-Hencky 应力会导致塑料由于应力开裂而降解或失效。

收缩 . 这些标准可用于中性面和双层面网格类型的热塑性成型工艺。
质量标准 分析目标:找出实现下述目标的条件
线性收缩

使线性收缩变化降至最小。

线性收缩中的误差

使线性收缩变化降至最小。

重叠注塑 . 这些标准可用于重叠注塑成型工艺。
质量标准 注释
第二次射出,填充末端总体温度

仅适用于中性面和双层面

第二次射出,锁模力  
第二次射出,注射压力  
第二次射出,剪切应力

仅适用于中性面和双层面

第二次射出,流动前沿温度  
第二次射出,冷却时间  
第二次射出,顶出时的体积收缩率  
第二次射出,保压结束时间

仅适用于中性面和双层面

第二次射出,周期时间

仅适用于 3D

第二次射出,零件质量/重量  
微芯片封装 . 这些标准仅可用于微芯片封装成型工艺。
质量标准 注释
晶片位移

仅适用于 3D

Von Mises 应力

仅适用于 3D

金线偏移

仅适用于中性面和双层面

第一主应力,金线

仅适用于中性面和双层面

金线剪切应力

仅适用于中性面和双层面

Mises-Hencky 应力,金线

仅适用于中性面和双层面

金线偏移指数

仅适用于中性面和双层面

平面内金线偏移

仅适用于中性面和双层面

晶片位移

仅适用于中性面和双层面

第一主应力,晶片

仅适用于中性面和双层面

晶片剪切应力

仅适用于中性面和双层面

Mises-Hencky 应力,晶片

仅适用于中性面和双层面