XY 변형(와이어 스위프) 결과는 인캡슐레이션 공정의 결과로 나타나는 와이어의 예측된 X-Y(평면) 변형을 보여줍니다.
이 결과는 Abaqus에서 와이어 스위프 계산을 수행한 마이크로칩 인캡슐레이션 해석에 의해 생성됩니다.
일반적으로 실제 와이어 변위의 X-레이가 평면에서 측정됩니다. 따라서 이 결과는 시뮬레이션된 결과를 실험 결과와 비교하는 데 특히 유용합니다.