結果の XY プロットを使用するには、Inventor Nastran ツリーの[サブケース]の下で[XY プロット]アイコンを右クリックし、[新規作成]を選択します。解析の実行が完了しているかどうか(Inventor Nastran ツリーの[解析]を右クリックし、[Nastran で実行]を選択)、または結果のロードが完了しているかどうか(Inventor Nastran ツリーの[解析]を右クリックし、[結果をロード]を選択)を確認します。
[一般]:
[プロットするエンティティ]:
- [選択したエンティティに沿って]: 結果を Y 軸、距離を X 軸とする XY プロット カーブで結果をプロットするために、スケッチのセグメントまたはエッジを選択できます。
- [節点/要素を選択]: 位置および参照座標系を設定することで節点/要素 ID を選択できます。
- [節点距離]または[要素距離]をチェックした場合: [節点]または[要素]ラジオ ボタンの選択に応じて、節点距離または要素距離を考慮します。
- [位置]: [節点]を選択した場合、X、Y、Z の座標上の位置に基づいて節点距離を使用します。
- [座標系]: 座標系の選択に基づいて、節点距離または要素距離の位置を定義できます。
- [節点距離]または[要素距離]をチェック解除した場合: 距離を考慮しません。節点インデックス/要素インデックスに基づいて、XY プロットを出力します。
- [ID]: 節点または要素の ID です。対象の節点または要素をクリックして、[選択]メニューに ID を入力できます。[選択]メニューに手動で入力するために ID を取得するには、[クエリー表示](Inventor Nastran モデル ツリーの[節点]または[要素]を右クリック)を使用できます。また、下の図に示すように、カンマ(,)を入力して、ID を連続して入力することができます。
- [グループ]: 既に定義されているグループを選択できます。
[出力セット]:
- [単一セット]: これはすべての解析に適用できます。[選択したエンティティに沿って]オプションを使用して選択したスケッチ/エッジに沿った結果、および[節点/要素を選択]を使用した節点/要素のセットに対して、XY プロットをプロットできます。
- [複数セット]: これは 1 つのサブケースに対して複数の結果から構成されている解析にのみ適用できます。
- [開始セット]: [XY プロット]の出力セットの範囲の開始セットを指定します。
- [終了セット]: [XY プロット]の出力セットの範囲の終了セットを指定します。
[出力ベクトル]:
- [結果データ]: プロットする出力ベクトルを定義します。
- [成分]: プロットするベクトル成分(該当する場合)を定義します。
-
[データ タイプ]:
- [振幅]: 振幅と位相の出力を選択する場合に表示されます。これは、周波数応答解析の分極情報用です。
- [位相]: 振幅と位相の出力を選択する場合に表示されます。これは、周波数応答解析の分極情報用です。
- [実数]: 実数および虚数の出力を選択する場合に表示されます。これは、周波数応答解析の矩形情報用です。
- [虚数]: 実数および虚数の出力を選択する場合に表示されます。これは、周波数応答解析の矩形情報用です。
[XY カーブ リスト]: