使用特性面板创建矩形、圆形和草图驱动的阵列。特性面板会基于选定的阵列类型、选择模式和方向选择器提供选择和几何图元选项,以指定阵列的位置。
关键概念
阵列特性面板具有一个固定到一侧的工具选项板。如果需要,您可以将其拖走,使这两者分离。若要重新连接它们,请单击其中一个并将其拖动到另一个的旁边,当蓝边出现时,松开鼠标按钮。当光标靠近特性面板时,工具选项板将捕捉到的一侧会亮显。
工具选项板可用于选择阵列类型并更改选择过滤器优先级(特征或实体)。
当某个值与特征的其他方面冲突时,特性面板和 HUD 中会显示警告标记。将光标悬停在标记上可查看工具提示信息。
“矩形阵列”工具可复制特征或实体并按矩形阵列样式排列结果(沿路径或从原始特征的两个方向)。
单击“三维模型”选项卡 “阵列”面板
“矩形阵列”
。
在工具选项板中,指定要创建阵列的内容:
在特性面板中,几何图元选择器将立即处于活动状态。您可以开始选择一个或多个要包含在阵列中的特征或实体。对于零件,还可以选择要包含在阵列中的定位特征和曲面特征。
通过指定以下选项,对齐行和列阵列中的选定特征:
方向 选择要在其中添加引用的方向。方向箭头的起点位于选择点。路径可以是二维或三维直线、圆弧、样条曲线、修剪的椭圆、边、圆柱面或基准轴。路径可以是开放回路,也可以是闭合回路。
中间平面 创建一个阵列,从中可以在原始特征的两侧分布引用。对于矩形阵列,可以为任一方向(“方向 1”、“方向 2”)单独使用中间面。
数量 指定列或线性路径中引用的数量。必须大于 0。
分布 指定距离的测量方式。
距离 指定引用之间的间距或距离,或者列或行跨越的距离。可以输入负值来创建相反方向的阵列。
如果需要,单击 以添加具有不规则距离的成员。
在边界内阵列特征。边界选项仅在零件造型中可用。
“边界”。单击以选择定义边界的面或轮廓。可以随时更改边界(无论是面还是轮廓),也可以通过取消选择边界来不再使用边界。
“偏移”。偏移选定边界,从而在边界线和偏移线之间创建隔离区域。在边界内有三个选项可用于阵列。这些步骤分别是:
如果阵列实体,请选择操作:
“优化”。通过阵列特征面创建与选定特征完全相同的副本。“优化”是最快的计算方法,限制为无法创建重叠引用或与不同于原始特征面的面相交的引用。如果可能,可加快阵列计算速度。
“完全相同”。通过复制原始特征的结果来创建选定特征的完全相同副本。不能使用“优化”方法时,可使用此项来获得完全相同的特征。
“调整”。通过阵列特征并分别计算每个阵列引用的范围或终止方式,创建可能不同的选定特征的副本。对于具有大量引用的阵列,计算时间可能会延长。通过使阵列引用可以根据特征范围或终止条件(例如终止于模型面上的特征)进行调整,来保留设计意图。不适用于处于开放或表面状态的实体零件实体的阵列。
单击“确定”。
“环形阵列”命令可将选定特征或实体的引用排列为圆弧或环形阵列。该命令可复制一个或多个特征或实体,然后以圆弧或圆形样式按特定的数量和间距排列生成的引用。
单击“三维模型”选项卡 “阵列”面板
“环形阵列”
。
在工具选项板中,指定要创建阵列的内容:
在特性面板中,几何图元选择器将立即处于活动状态。您可以开始选择一个或多个要包含在阵列中的特征或实体。对于零件,还可以选择要包含在阵列中的定位特征和曲面特征。
通过指定以下选项,对齐行和列阵列中的选定特征:
方向 选择重复引用所围绕的轴(枢轴点)。轴可以在与阵列特征不同的平面上。
中间平面 在原始特征(通常在居中位置创建)的两侧分布特征引用。引用数量为偶数时,使用“反向”确定取得额外引用的一侧。
数量 指定阵列中引用的数目。
分布:指定角度的测量方式。
角度 引用之间的角度间距取决于放置方法。如果选择“增量”放置方式,此角度指定了两个引用之间的角度间隔。如果选择“范围”放置方法,则角度指定了阵列所占用的总面积。输入负值以在相反方向创建阵列。
方向:指定阵列的方向。
旋转 如果您希望实体或特征集在绕轴移动时更改方向,请选择该选项。
固定 如果您希望实体或特征集在绕轴移动时其方向与父选择集相同,请选择该选项。
(可选)选择“基准点”,然后选择一个顶点或点以重定义固定阵列基准点。
如果需要,单击 以添加具有不规则角度的成员。
在边界内阵列特征。边界选项仅在零件造型中可用。
“边界”。单击以选择定义边界的面或轮廓。可以随时更改边界(无论是面还是轮廓),也可以通过取消选择边界来不再使用边界。
“偏移”。偏移选定边界,从而在边界线和偏移线之间创建隔离区域。在边界内有三个选项可用于阵列。这些步骤分别是:
如果阵列实体,请选择操作:
设置阵列特征的创建方法:
单击“确定”。
以下是使用限制到边界的阵列时要记住的要点。
“草图驱动的阵列”命令可以将特征或实体的引用排列在二维或三维草图点上。该命令可复制一个或多个特征或实体,然后以草图点定义的阵列样式排列生成的引用。
在模型上的二维或三维草图中创建草图点,然后以所需的阵列样式排列这些点。
单击“三维模型”选项卡 “阵列”面板
“草图驱动”
。
在工具选项板中,指定要创建阵列的内容:
在特性面板中,几何图元选择器将立即处于活动状态。您可以开始选择一个或多个要包含在阵列中的特征或实体。对于零件,还可以选择要包含在阵列中的定位特征和曲面特征。
如果有多个草图或草图不可见,请选择要使用的草图。
指定放置:
草图点 选择二维或三维草图以获取所有中心点。
基点 选择顶点或点以更改引用原点。
方向:指定阵列的方向。
如果阵列实体,请选择操作:
设置阵列特征的创建方法:
单击“确定”。
“镜像”命令可在平面中相等的距离处创建一个或多个特征、整个实体或新实体的反向副本。使用工作平面作为镜像平面的现有平面。
执行以下操作之一:
在“镜像”对话框中,指定要镜像的对象:
“镜像各个特征”。选择要镜像的实体特征、定位特征和曲面特征。如果所选特征带有从属特征,则它们也将被自动选中。在部件中,仅可以镜像基于草图的特征。不能镜像:
“镜像实体”。选择零件实体。允许您在选择中选择性地包含定位特征和曲面特征。
在图形窗口或浏览器中,选择要镜像的特征。
在“镜像”对话框中,单击“镜像平面”,然后选择要用作镜像平面的工作平面或平面。使用“装配”选项卡上的“镜像零部件”。
在多实体零件中,选择“实体”,然后选择实体来接收镜像特征。
如果要镜像实体,请选择操作,并确定是否需要删除原始实体:
单击“更多” 以指定镜像特征的计算方式:
单击“确定”。
暂时抑制在阵列中显示定位特征、实体特征或曲面特征。恢复特征之前,特征将保持被抑制状态。
执行以下任意操作:
若要抑制或恢复阵列中所有实体特征引用的可见性,请在浏览器中选择阵列图标,单击鼠标右键,然后选择“抑制特征”或“解除抑制特征”。
若要抑制或恢复阵列中实体特征的单个引用的可见性,请在浏览器中展开阵列图标,选择该引用,单击鼠标右键,然后选择“抑制”或“解除抑制”。
若要隐藏或恢复所有阵列引用中所有定位特征或曲面特征的可见性,请在浏览器中选择阵列图标,单击鼠标右键,然后选择“隐藏所有定位特征”、“显示所有定位特征”、“隐藏所有曲面”或“显示所有曲面”。
若要隐藏或恢复某个阵列引用中单个定位特征或曲面特征的可见性,请在浏览器中展开阵列图标,选择该引用,单击鼠标右键,然后打开或关闭“可见性”选项。
创建曲面时,该曲面透明,且与工作平面的颜色相同。使用“透明度”选项使曲面不透明。
请执行以下操作之一:
孔特征是一种特殊情况。“终止方式”为“贯通”的孔可阵列化由初始特征穿透的实体部分。如果结果不是您想要的,请将终止方式更改为“距离”。