自定义 SelectedSurface 探测方法的步骤

SelectedSurface 探测方法使您可以为指定曲面生成光栅探测参考线。使用“曲面参数”对话框可选择曲面，并指定控制测头参考线的参数。

若要指定曲面和探测参数，请执行以下操作：

1. 在“特征”选项卡中，选择“SelectedSurface”方法，然后单击“参数” 按钮。系统将显示“曲面参数”对话框。

   例如：

   

2. 单击“图形方式选择” 按钮。

   系统将显示“选择曲面”对话框。

   

3. 在 CAD 模型上，在要检测的曲面上单击鼠标左键。此时将显示曲面的“名称”、“ID”、“层”和“状态”。
4. 单击“确定” 按钮确认曲面并关闭对话框。曲面的详细信息和参数限制将显示在“曲面参数”对话框中。
5. 在“指定布局”列表中，选择用于创建检测路径的方法。选择：
   • 按参数单位可使用曲面的参数单位指定行间步距和点间节距。
   • 按规格化单位可使用曲面的规格化参数单位指定行间步距和点间节距。
   • 按间隔可指定最大行数和每行的最大测头点数。
6. 在“图案方向”列表中，选择检测路径中每行的方向。
7. 选中“使用双向顺序连接行”复选框可交替行之间的检测路径方向。取消选中该复选框可对每行使用相同的方向。
8. 在“开始拐角”列表中，选择您希望检测路径开始的位置。
9. 单击“确定” 按钮保存更改并生成检测路径。