“修改”面板 > 进行选择 >“修改器列表”>“对象空间修改器”>“阵列”>“UV”卷展栏
- 默认菜单：进行选择 >“修改器”菜单 >“参数化变形器”>“阵列”>“UV”卷展栏
阵列修改器的“UV”卷展栏可用于控制将 UV 应用于选定阵列中的克隆的方式。
界面
- UV 方法
- 设置 UV 方法。
-
- 现有
- （默认）不对克隆的 UV 进行任何更改。
- 克隆 XYZ
- 将 X、Y、Z 方向值映射到对应克隆的 UWV 贴图的 UVW 值。
- 克隆编号
- 将克隆编号应用到对应克隆的 UWV 贴图的 UVW 值。
- 通道
- 设置应用了 UVW 值的 UV 贴图通道。
- 规格化
- 启用后，UVW 值会基于以下内容从 0.0 规格化到 1.0：
- XYZ 方向上的克隆数（当为“UV 方法”选择“克隆 XYZ”时）
- 克隆总数（当为“UV 方法”选择“克隆编号”时）
- 相加
- 启用后，将 UVW 值加到源贴图中的现有值。
- 源
- 当“UV 方法”设置为“相加”时，设置源 UV 贴图通道。
注： 如果此通道与目标通道相同，则覆盖原始 UVW 值。