カイ二乗分布は、仮定テストで使用される確率ツールです。最小二乗法の場合、元の観測が調整後の観測と比較され、互いの差異の広さが評価されます。
次の公式を使用して、カイ二乗値 X2 を求めます。
各変数は、次のとおりです。
- m = 観測計算式の数
- vi = V マトリックスの誤差値
- pi = P マトリックスの対応する重み
調整後の観測が対応する測定後の観測と近似している場合、X2 値は小さくなります。これを「適合度が高い」といいます。次に、適合度テストが行われます。このテストでは、X2 値がカイ二乗値 X2 分布のクリティカル値テーブルの値と 5% レベルで比較されます。テーブル内の値より小さい X2 値は合格し、それより大きい X2 値は不合格となります。これにより、初期測定のエラーの可能性が示されます。